Elektrotekno.com Ana Sayfa || Kitaplar, Dergiler (E-Books, Magazines)
Açıklama:
Elektrik, Elektronik, Haberleşme ve Otomasyon konularının ağırlıklı olarak konuşulduğu, tartışıldığı ve bilgi paylaşımı yapıldığı forumumuza hoşgeldiniz.
Şu an E-kütüphane (Elektrik, elektronik ve haberleşme konularında) kategorisi içerisindeki Kitaplar, Dergiler (E-Books, Magazines) forumunda bulunuyorsunuz.
Bu sayfada üyelerimizin "Notes on OPAMP Circuits By Dr.Venkat Ramaswamy Technical University of Sydney" konusundaki problem, görüş ve önerileri okuyabilir ayrıca konu hakkındaki doküman, resim, proje, devre ve programlara ücretsiz olarak ulaşabilirsiniz. Üye olduktan sonra sizler de konu hakkında sorular sorabilir ya da yorum ve paylaşım yaparak birikimlerinizi aktarabilirsiniz.
Forumdan tam olarak yararlanabilmek için üye olmayı unutmayınız!
Elektrik, Elektronik, Haberleşme ve Otomasyon konularının ağırlıklı olarak konuşulduğu, tartışıldığı ve bilgi paylaşımı yapıldığı forumumuza hoşgeldiniz.
Şu an E-kütüphane (Elektrik, elektronik ve haberleşme konularında) kategorisi içerisindeki Kitaplar, Dergiler (E-Books, Magazines) forumunda bulunuyorsunuz.
Bu sayfada üyelerimizin "Notes on OPAMP Circuits By Dr.Venkat Ramaswamy Technical University of Sydney" konusundaki problem, görüş ve önerileri okuyabilir ayrıca konu hakkındaki doküman, resim, proje, devre ve programlara ücretsiz olarak ulaşabilirsiniz. Üye olduktan sonra sizler de konu hakkında sorular sorabilir ya da yorum ve paylaşım yaparak birikimlerinizi aktarabilirsiniz.
Forumdan tam olarak yararlanabilmek için üye olmayı unutmayınız!
Essentials of Electronic Testing for Digital Memory and Mixed-Signal VLSI Circui
indir
Today’s electronic design and test engineers deal with several types of subsystems, namely, digital, memory, and mixed-signal, each requiring different test and design for testability methods. This book provides a careful selection of essential topics on all three types of circuits. The outcome of testing is product quality, which means `meeting the user’s needs at a minimum cost.’ The book includes test economics and techniques for determining the defect level of VLSI chips. Besides being a textbook for a course on testing, it is a complete testability guide for an engineer working on any kind of electronic device or system or a system-on-a-chip. The book consists of: Part I: Introduction, Test Process and ATE, Test Economics and Product Quality, Fault Modeling; Part II: Logic and Fault Simulation, Testability Measures, Combinatorial ATPG, Sequential ATPG, Memory Test, DSP-Based Analog Test, Model-Based Analog Test, Delay Test, IDDQ Test; Part III: DFT and Scan Design, BIST, Boundary Scan, Analog Test Bus, System Test and Core-Based Design, Future Testing; Appendices: Cyclic Redundancy Code Theory, Primitive Polynomials, Books on Testing; Bibliography: over 700 entries.
Başa dön
Essentials of Electronic Testing for Digital Memory and Mixed-Signal VLSI Circui
Sitemize üyelik ve içeriğin indirilmesi tamamen ücretsizdir. Sitemizde paylaşılan tüm dokümanlar (Tezler, makaleler, ders notları, sınav soru cevaplar, projeler) paylaşımcıların bireysel çalışmaları olup telif hakları kendilerine aittir ya da açık bir şekilde kamusal alana yerleştirilmiş dokümanların birer kopyalarıdır. Kişilerin bireysel çalışmalarını sitemizde yüklemesinde, sitemizde paylaşıma teşvik eden puanlama sisteminin de etkisi büyüktür. Bunlara rağmen hala size ait olan ve burada bulunmasına izin vermediğiniz dokümanlar varsa iletişim bölümünden yöneticilere bildirmeniz durumunda derhal silineceklerdir.
